詳細說明
在當今工業生產中對納米級表面結構的了解日益重要。這些應用包含了從內燃機磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護層，以及現代車用噴漆，從半導體工業到醫用技術。傳統方法已經無法處理上述的長度空間。但同時可以看到，對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進行描述日益成為工業界和科研機構的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內對化學反應過程，腐蝕和磨損進行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應用，它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結構。而這樣大的測量范圍只需使用同一臺設備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場上終于出現了一臺掃描原子力顯微鏡，它的突出特點是模塊化結構、高度靈活性而且操作極其簡便。它獨特的測量模塊運用了化學對比度成像（Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ，這種新技術可以檢測到表面極其微量的化學變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學反應實際發生的位置，這些反應通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個采集點上同時采集圖像信息：從采樣點表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學對比度。
