微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的首選方法。采用多導(dǎo)毛細管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得極佳的空間分辨率，進行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進行分析。

測定鍍層樣品厚度及成分

   采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標樣基本參數(shù)法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品進一步提高定量分析的準確性

RoHS檢測

    測量一個PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）

圖像的原始大小：250×75像素

測量時間：0.15s/像素

 

主要特點：
  M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。
  采用多導(dǎo)毛細管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率最高。
  渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。

  高強度的X射線光管與多導(dǎo)毛細管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。
  使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
采用無標樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。

  可抽真空的樣品室配有自動門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品（整體觀察和分析區(qū)域的細致觀察），便捷進樣功能和自動對焦功能可以進行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運行程序可實現(xiàn)重復(fù)測量。

行業(yè)應(yīng)用：

1. 地球科學(xué)（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像）

2. 司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析（對衣物上的彈孔進行射擊殘留物GSR分析）

3. 藝術(shù)與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析，修復(fù)文物)

4. 質(zhì)量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）

5. 發(fā)動機部件、電機/潤滑油（識別電機/潤滑油中的發(fā)動機磨損產(chǎn)物）

6. 生命科學(xué)（檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）

7. 材料科學(xué)（鋼材腐蝕檢驗）

8. 環(huán)境科學(xué)(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)

過濾器上的薄膜（空氣濾膜）